Xác định nồng độ tạp chất trong nền bán dẫn của cấu trúc MOS từ phép đo C-V

Chỉ số đề mục

29.19

Lĩnh vực nghiên cứu

Vật lý

Dạng tài liệu

Tác giả

Nguyễn Thị Bảo Ngọc, Nguyễn Văn Nhã, Bùi Đăng Thảnh⁽¹⁾

Nhan đề

Xác định nồng độ tạp chất trong nền bán dẫn của cấu trúc MOS từ phép đo C-V

Nhan đề tiếng anh

Nguồn trích

TC Khoa học: Khoa học tự nhiên (Đại học Quốc gia Hà Nội)

Năm xuất bản

1998

Số

Trang

37-40

ISSN

0866-8612

Từ khóa

Từ khóa tiếng anh

Tóm tắt

Tóm tắt tiếng anh

Kí hiệu kho

TTTTKHCNQG, CTv 8

File toàn văn

Xem toàn văn