Lọc theo danh mục
  • Năm xuất bản
    Xem thêm
  • Lĩnh vực
liên kết website
Lượt truy cập
 Lượt truy cập :  26,783,779
  • Công bố khoa học và công nghệ Việt Nam

Điện hóa

Nguyễn Quốc Minh, Lê Thị Minh Châu(1), Nguyễn Đăng Tiến, Lê Minh Hiếu

Nhận dạng tấm pin mặt trời bị lỗi dựa trên hình ảnh điện phát quang bằng deep learning

Detect pv cell defection based on electroluminescence light using deep learning

Khoa học và Công nghệ - Đại học Thái Nguyên

2021

11

117-123

1859-2171

Việc xác định tấm pin mặt trời bị hỏng có vai trò rất quan trọng trong việc đảm bảo vận hành an toàn, tin cậy và hiệu suất tối đa của các nhà máy điện mặt trời. Trong nghiên cứu này, chúng tôi đề xuất sử dụng mô hình deep learning để tự động hoá việc phân loại tấm pin mặt trời bị lỗi. Mô hình này bao gồm mạng nơron tích chập được dùng để trích xuất đặc trưng và thuật toán máy học véctơ hỗ trợ để nhận dạng. Mô hình được huấn luyện và kiểm tra trên tập dữ liệu bao gồm 2.146 hình ảnh điện phát quang có độ phân giải cao của các tấm pin mặt trời loại momo và loại poly. Kết quả phân loại cho thấy mô hình đề xuất có thể phân loại được tấm pin mặt trời bị hỏng với độ chính xác đạt được là 91,63%.

PV cell surface defects inspection is essential to maintain safety, reliability and optimal efficiency of the solar plant. Cell surface defection is the most popular type of fault and it can be hardly detected by normal visual inspection. Defected cells without detection and maintainane can affect the performance of other normal cells since they are connected in series and parallel in large number. In this research, we present a method to automatically detect PV cell surface defection using image processing technique by deep learning model. The input data include 2146 high resolution electroluminescence images of mono and poly PV cells. This type of image is usually captured by drones. The images are then fed into convolutional neural network (CNN) for feature extraction and support vector machine (SVM) for image classification. The results show that the proposed deep learning model can classify the normal and surface defect cells with the accuracy of 91.63%.

TTKHCNQG, CTv 178