Hiệu chỉnh sai số mô hình vỏ mỏng thông qua véc tơ từ trường và từ thế vô hướng bằng công thức bài toán con

Chỉ số đề mục

Lĩnh vực nghiên cứu

Vật lý hạt và trường

Dạng tài liệu

Tác giả

Đặng Quốc Vương⁽¹⁾, Bùi Minh Định

Nhan đề

Hiệu chỉnh sai số mô hình vỏ mỏng thông qua véc tơ từ trường và từ thế vô hướng bằng công thức bài toán con

Nhan đề tiếng anh

Nguồn trích

Khoa học và Công nghệ - Đại học Thái Nguyên

Năm xuất bản

2020

Số

13

Trang

121-125

ISSN

1859-2171

Từ khóa

Công thức từ trường, Phương pháp, Phần tử hữu hạn, Bài toán con, Bài toán từ động, Dòng điện xoáy, Từ thế vô hướng, Tổn hao công suất

Từ khóa tiếng anh

Tóm tắt

Mục đích của bài báo này là dựa trên công thức bài toán con với véc tơ từ trường và từ thế vô hướng để tính toán và mô phỏng sự phân bố của trường (từ trường, từ thế vô hướng, dòng điện xoáy và tổn hao công suất) xuất hiện trong mô hình vỏ mỏng dẫn từ, nơi mà được xem như là rất khó có thể áp dụng trực tiếp công thức phương pháp phần tử hữu hạn để thực hiện. Kịch bản của phương pháp cho phép ghép “couple” các bài toán con với hai bước Một bài toán với mô hình đơn giản các cuộn dây và miền mỏng dẫn từ được xem xét trước. Bài toán tiếp theo bao gồm một hoặc hai miền dẫn thực tế được đưa vào để cải thiện/hiệu chỉnh sai số xuất hiện gần cạnh và góc của miền mỏng dẫn từ. Tất cả các bước đều được giải độc lập với các lưới và miền khác nhau, điều này tạo thuận lợi cho việc chia giảm được thời gian tính toán cho mỗi một tiến trình.

Tóm tắt tiếng anh

Kí hiệu kho

TTKHVNQG, CTv 178

File toàn văn

Xem toàn văn

Tài liệu tham khảo

[1] G. Kovacs, and M. Kuczmann, (2011), Solution of the TEAM workshop problem No.7 by the finite Element Method,,International Compumag Society Board, 2011, pp. 1-15.
[2] Q. V. Dang, (2018), “Modeling of Magnetic fields and Eddy current losses in Electromagnetic Screens by a Subproblem Method”,,TNU Journal of Science and Technology, vol. 192, no. 16, pp. 712, 2018.
[3] Q. V. Vuong, (2020), “Robust Correction Procedure for Accurate Thin Shell Models via a Perturbation Technique,”,Engineering, Technology & Applied Science Research, vol. 10, no. 3, pp. 5832-5836, 2020.
[4] V. Q. Dang, P. Dular, R. V. Sabariego, L. Krähenbühl, and C. Geuzaine, (2013), “Subproblem Approach for Modelding Multiply Connected Thin Regions with an h-Conformal Magnetodynamic Finite Element Formulation,”,EPJ AP., vol. 64, no. 2, pp. 24516p1-24516p7, 2013.
[5] Q. V. Dang, (2020,), “Improved error of electromagnetic shielding problems by a two-process coupling subproblem technique,”,Science & Technology Development Journal, vol. 23, no. 2, pp. 524527, 2020,
[6] Velasco, F. Henrotte, and C. Geuzaine, (2020), "FiniteElement Modeling of Thin Conductors in Frequency Domain,",IEEE Transactions on Magnetics, vol. 56, no. 4, pp. 1-4, 2020
[7] P. Dular, V. Q. Dang, R. V. Sabariego, L. Krähenbühl, and C. Geuzaine, (2011), “Correction of thin shell finite element magnetic models via a subproblem method,”,IEEE Transactions on Magnetics, vol. 47, no. 5, pp. 158-161, 2011.
[8] V. Q. Dang, P. Dular, R. V. Sabariego, L. Krähenbühl, and C. Geuzaine, (2012), “Subproblem approach for Thin Shell Dual Finite Element Formulations,”,IEEE Transactions on Magnetics, vol. 48, no. 2, pp. 407-410, 2012.
[9] S. Koruglu, P. Sergeant, R. V. Sabarieqo, V. Q. Dang, and M. De Wulf, (2011), “Influence of contact resistance on shielding efficiency of shielding gutters for high-voltage cables,”,IET Electric Power Applications, vol. 5, no. 9, pp. 715-720, 2011.