Lọc theo danh mục
  • Năm xuất bản
    Xem thêm
  • Lĩnh vực
liên kết website
Lượt truy cập
 Lượt truy cập :  30,040,373
  • Công bố khoa học và công nghệ Việt Nam

29.19.04; 29.19.33

Vật lý

Trương T.N Liên, Lương Hữu Bắc, Phí Văn Toàn, Nguyễn Đức Chiến, Đỗ Văn Minh(1)

ảnh hưởng của lớp phân biên và định hướng của đế Si lên sự phân bố mật độ trạng thái bẫy bề mặt trong cấu trúc MOS (Pt/Gd2O3/Si)

Tuyển tập các báo cáo: Hội nghị Vật lý chất rắn toàn quốc lần thứ 5 - Hội Vật lý Việt Nam

2007

0

495-498

TTKHCNQG, Vđ 456/2009