Lọc theo danh mục
liên kết website
Lượt truy cập
- Công bố khoa học và công nghệ Việt Nam
29.19.04; 29.19.33
Vật lý
Trương T.N Liên, Lương Hữu Bắc, Phí Văn Toàn, Nguyễn Đức Chiến, Đỗ Văn Minh(1)
ảnh hưởng của lớp phân biên và định hướng của đế Si lên sự phân bố mật độ trạng thái bẫy bề mặt trong cấu trúc MOS (Pt/Gd2O3/Si)
Tuyển tập các báo cáo: Hội nghị Vật lý chất rắn toàn quốc lần thứ 5 - Hội Vật lý Việt Nam
2007
0
495-498
TTKHCNQG, Vđ 456/2009
