



- Công bố khoa học và công nghệ Việt Nam
Trắc địa học và bản đồ học
Phạm Văn Duẩn(1), Lê Sỹ Doanh, Vũ Thị Thìn, Nguyễn Văn Thị, Hoàng Văn Khiên, Phạm Tiến Dũng, Đinh Văn Tuyến
Đánh giá khả năng khai thác ảnh vệ tinh quang học miễn phí phục vụ giám sát lớp phủ mặt đất tại Việt Nam
Khoa học và Công nghệ Lâm nghiệp
2019
3
65-75
1859-3828
TTKHCNQG, CVv 421