Thông tin nhà nghiên cứu KH&CN

Mã NNC: CB.1488858

Phạm Thị Bích Vân

Cơ quan/đơn vị công tác: Học viện Kỹ thuật Quân sự - Bộ Quốc phòng

Lĩnh vực nghiên cứu:

  • Danh sách các Bài báo/Công bố KH&CN
  • Danh sách các Nhiệm vụ KH&CN đã tham gia
[1]

Personalized Federated Learning with Optimized Contrastive Learning for Intrusion Detection System

Quan Hong Ngo, Van T B Pham, Ly Vu
2024 RIVF International Conference on Computing and Communication Technologies (RIVF) - Năm xuất bản: 2024; ISSN/ISBN:
[2]

SAFETY OF LLMs: A STUDY WITH ADVERSARIAL EXAMPLES

Nguyen The Hung, Pham Thi Bich Van, Bui Thu Lam
Some Selected Issues on Information and Communication Technology (VNICT 2024) - Năm xuất bản: 2024; ISSN/ISBN:
[3]

Federated Learning for Intrusion Detection in non-IID Data Distribution

Hong-Quan Ngo, Ly Vu, Quynh Hoang, Bich Van Pham
Some Selected Issues on Information and Communication Technology (VNICT 2024) - Năm xuất bản: 2024; ISSN/ISBN:
[4]

A proposed hybrid chatbot for retrieving information in the domain of digital transformation

Hung T Nguyen, Khanh V Do, Minh Q Le, Duc X Le, Dung T Nguyen, Van T B Pham
The National Conference on Fundamental and Applied IT Research (FAIR 2024) - Năm xuất bản: 2024; ISSN/ISBN:
[5]

A multi-population coevolutionary approach for Software defect prediction with imbalanced data

L. T. Bui, V. T. Vu, B. V. Pham and V. A. Phan
14th International Conference on Knowledge and Systems Engineering (KSE) - Năm xuất bản: 2022; ISSN/ISBN:
[6]

An efficient method to improve the accuracy of Vietnamese vehicle license plate recognition in unconstrained environment

K. N. Quoc, D. P. Van and V. P. T. Bich
2021 International Conference on Multimedia Analysis and Pattern Recognition (MAPR) - Năm xuất bản: 2021; ISSN/ISBN:
[7]

A Better Set of Object-Oriented Design Metrics for Within-Project Defect Prediction

Van Pham, Chris Lokan, and Kathryn Kasmarik
Proceedings of the 24th International Conference on Evaluation and Assessment in Software Engineering (EASE '20) - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: