HỆ THỐNG THÔNG TIN QUỐC GIA VỀ KHOA HỌC, CÔNG NGHỆ VÀ ĐỔI MỚI SÁNG TẠO
Thông tin nhà nghiên cứu KH&CN
Mã NNC: CB.1306829
TS Lê Văn Long
Cơ quan/đơn vị công tác: Viện Khoa học Vật liệu, Viện Hàn lâm và Khoa học Công nghệ Việt Nam
Lĩnh vực nghiên cứu:
- Danh sách các Bài báo/Công bố KH&CN
- Danh sách các Nhiệm vụ KH&CN đã tham gia
| [1] |
Long V. Le, Tae Jung Kim, Xuan Au Nguyen, Junho Choi, Young Dong Kim Phys. Status Solidi B - Năm xuất bản: 2025; ISSN/ISBN: |
| [2] |
Nguyen, H.T.; Le, V.L.; Nguyen, T.M.; Bui, X.K.; Nguyen, T.G.; Nguyen, N.L.; Nguyen, X.A.; Kim, T.J. Nanomaterials - Năm xuất bản: 2025; ISSN/ISBN: |
| [3] |
Temperature dependence of the dielectric function and critical points of monolayer WSe2 Xuan Au Nguyen, Long V. Le, Suk Hyun Kim, Young Duck Kim, Mangesh S. Diware, Tae Jung Kim & Young Dong KimScientific Reports - Năm xuất bản: 2024; ISSN/ISBN: |
| [4] |
The Wannier-Mott Exciton, Bound Exciton, and Optical Phonon Replicas of Single-Crystal GaSe Le, L.V.; Huong, T.T.T.; Nguyen, T.-T.; Nguyen, X.A.; Nguyen, T.H.; Cho, S.; Kim, Y.D.; Kim, T.J.Crystals - Năm xuất bản: 2024; ISSN/ISBN: |
| [5] |
Le, L.V.; Nguyen, T.-T.; Nguyen, X.A.; Cuong, D.D.; Nguyen, T.H.; Nguyen, V.Q.; Cho, S.; Kim, Y.D.; Kim, T.J. Nanomaterials - Năm xuất bản: 2024; ISSN/ISBN: |
| [6] |
Noise reduction and peak detection in x-ray diffraction data by linear and nonlinear methods Long V. Le, Jeroen A. Deijkers, Young D. Kim, Haydn N. G. Wadley, David E. AspnesJournal of Vacuum Science & Technology B - Năm xuất bản: 2023; ISSN/ISBN: |
| [7] |
Phuong Ngoc Nguyen, Trang Thanh Tran, Quynh Anh Thi Nguyen, Yoshiyuki Kawazoe, S. V. Prabhakar Vattikuti, Long V. Le, Viet Quoc Bui, Tuan Manh Nguyen and Nam Nguyen Dang Journal of Materials Chemistry A - Năm xuất bản: 2023; ISSN/ISBN: |
| [8] |
Detection of the Biexciton of Monolayer WS2 in Ellipsometric Data: A Maximum-Entropy Success Long V. Le, Tae Jung Kim, Young Dong Kim, David E. Aspnesphysica status solidi (b) - Năm xuất bản: 2022; ISSN/ISBN: |
| [9] |
Decoding ‘Maximum Entropy’ Deconvolution Le, L.V.; Kim, T.J.; Kim, Y.D.; Aspnes, D.EEntropy - Năm xuất bản: 2022; ISSN/ISBN: |
| [10] |
Eliminating noise from spectra by linear and nonlinear methods L.V. Le, Y.D. Kim, D.E. AspnesThin Solid Films - Năm xuất bản: 2022; ISSN/ISBN: |
| [11] |
Eliminating white noise in spectra: A generalized maximum-entropy approach L. V. Le, Y. D. Kim, D. E. AspnesJournal of Applied Physics - Năm xuất bản: 2022; ISSN/ISBN: |
| [12] |
Highly luminescent air-stable AgInS2/ZnS core/shell nanocrystals for grow lights Tran Thi Thu Huong, Nguyen Thu Loan, Le Van Long, Tran Dinh Phong, Thuy Ung Thi Dieu, Nguyen Quang LiemOptical Materials - Năm xuất bản: 2022; ISSN/ISBN: |
| [13] |
Maximum-entropy revisited: Optimal filtering of spectra L. V. Le, T. J. Kim, Y. D. Kim, D. E. AspnesJournal of Applied Physics - Năm xuất bản: 2021; ISSN/ISBN: |
| [14] |
Quantitative assessment of linear noise-reduction filters for spectroscopy Long V Le, Young D Kim, David E Aspnes- Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [15] |
Modeling of the Temperature Dependence of the Dielectric Function of Biaxial α-SnS Hoang Tung Nguyen, Van Long Le, Tae Jung Kim, Xuan Au Nguyen & Young Dong KimJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [16] |
Extended Gaussian Filtering for Noise Reduction in Spectral Analysis V. L. Le, T. J. Kim, Y. D. Kim & D. E. AspnesJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [17] |
Parameterization of the Dielectric Function of GaAsSb Alloy Films Tae Jung Kim, Van Long Le, Hoang Tung Nguyen, Xuan Au Nguyen, Bogyu Kim & Young Dong KimJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [18] |
Parameterization of Dielectric Functions and Phase Transitions of SrTiO 3 from 26 to 674 K Kim, Tae Jung; Le, Van Long; Park, Han Gyeol; Nguyen, Hoang Tung; Nguyen, XuanAu; Kim, Young DongJournal of Nanoscience and Nanotechnology - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [19] |
Temperature dependence of the dielectric function and critical points of α-SnS from 27 to 350 K Hoang Tung Nguyen, Van Long Le, Thi Minh Hai Nguyen, Tae Jung Kim, Xuan Au Nguyen, Bogyu Kim, Kyujin Kim, Wonjun Lee, Sunglae Cho & Young Dong KimScientific Reports - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [20] |
Anisotropic behavior of excitons in single-crystal Van Long Le, Do Duc Cuong, Hoang Tung Nguyen, Xuan Au Nguyen, Bogyu Kim, Kyujin Kim, Wonjun Lee, Soon Cheol Hong, Tae Jung Kim, Young Dong KimAIP Advances - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [21] |
Modeling of the Optical Properties of Monolayer WS2 Tae Jung Kim, Van Long Le, Hoang Tung Nguyen, Xuan Au Nguyen & Young Dong KimJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [22] |
Dong Hyung Kim, Won Chegal, Yong Jai Cho, Sang Won O, Long Van Le, Mangesh S. Diware, Se-Hwan Paek, Young Dong Kim, Hyun Mo Cho Biosensors and Bioelectronics - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [23] |
Partially Spatial Coherent Thermal Emitter Based on an Epsilon-and-mu-near-zero Metamaterial Byungsoo Kang, Mingeon Kim, Junyong Seo, Jongin Choi, Bong Jae Lee, Bumki Min, Van Long Le, Yong Jai Cho & Young Dong KimJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [24] |
Parameterized optical properties of Inx Al1-xP alloys Hoang Tung Nguyen, Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Xuan Au Nguyen, and Young Dong KimApplied Optics - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [25] |
Parameterized optical properties of monolayer MoSe2 Tae Jung Kim; Han Gyeol Park; Van Long Le; Hoang Tung Nguyen; Xuan Au Nguyen; Young Dong KimAIP Advances - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [26] |
Temperature Dependence of Optical Properties of Monolayer WS2 by Spectroscopic Ellipsometry Hoang Tung Nguyen, Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Xuan Au Nguyen, Dohyoung Koo, Chul-Ho Lee, Do Duc Cuong, Soon Cheol Hong, Young Dong KimApplied Surface Science - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [27] |
External removal of endpoint-discontinuity artifacts in the reciprocal-space analysis of spectra V.L. Le, T.J. Kim, Y.D. Kim, and D.E. AspnesCurrent Applied Physics - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [28] |
Combined interpolation, scale change, and noise reduction in spectral analysis Van L. Le, Tae J. Kim, Young D. Kim, and David E. AspnesJournal of Vacuum Science & Technology B - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [29] |
Linear and nonlinear filtering of spectra David E. Aspnes, Van L. Le, and Young D. KimJournal of Vacuum Science & Technology B - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [30] |
A Parametric Model for Temperature Dependence of Dielectric Function of AlSb Film Xuan Au Nguyen, Tae Jung Kim, Van Long Le, Han Gyeol Park, Hoang Tung Nguyen, and Young Dong KimJournal of Nanoscience and Nanotechnology - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [31] |
Dielectric Functions and Critical Points of GaAsSb Alloys Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Jun Seok Byun, Van Long Le, Hoang Tung Nguyen, Xuan Au Nguyen, Young Dong Kim, Jin Dong Song, and David E. AspnesJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [32] |
Parameterized optical properties of monolayer MoSe2 Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Hoang Tung Nguyen, Xuan Au Nguyen, and Young Dong KimAIP Advances - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [33] |
Temperature dependence of the dielectric function of monolayer MoS2 V.L. Le, T.J. Kim, H.G. Park, H.T. Nguyen, X.A. Nguyen, Y.D. KimCurrent Applied Physics - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [34] |
Temperature Dependence of the Dielectric Response and Critical Point Energies of Bi185Gd015Te3 Hoang Tung Nguyen, Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Jinsu Kim, Myung-Hwa Jung, and Young Dong KimJournal of Nanoscience and Nanotechnology - Năm xuất bản: 2018; ISSN/ISBN: |
| [35] |
Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Hwa Seob Kim, Chang Hyun Yoo, Hyoung Uk Kim, Young Dong Kim, Chang Bae Park, Kwangwoo Shin, and Kee Hoon Kim Science of Advanced Materials - Năm xuất bản: 2018; ISSN/ISBN: |
| [36] |
Temperature Dependence of the Dielectric Function of Monolayer MoSe2 Han Gyeol Park, Tae Jung Kim, Farman Ullah, Van Long Le, Hoang Tung Nguyen, Yong Soo Kim & Young Dong KimScientific Reports - Năm xuất bản: 2018; ISSN/ISBN: |
| [37] |
Temperature Dependence of the Optical Properties of SrTiO3 by Spectroscopic Ellipsometry Han Gyeol Park, Tae Jung Kim, Mangesh S. Diware, Van Long Le, Hwa Seob Kim, Chang Hyun Yoo, and Young Dong KimScience of Advanced Materials - Năm xuất bản: 2017; ISSN/ISBN: |
| [38] |
Optical Characterization of the PtSi/Si by Using Spectroscopic Ellipsometry Van Long Le, Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Hwa Seob Kim, Chang Hyun Yoo, Hyoung Uk Kim and Young Dong KimJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2016; ISSN/ISBN: |
| [39] |
Temperature Dependence of the Critical Points of Monolayer MoS2 by Ellipsometry Han Gyeol Park, Tae Jung Kim, Hwa Seob Kim, Chang Hyun Yoo, Nilesh S. Barange, Van Long Le, Hyoung Uk Kim, Velusamy Senthilkumar, Chinh Tam Le, Yong Soo Kim, Maeng-Je Seong & Young Dong KimApplied Spectroscopy Reviews - Năm xuất bản: 2016; ISSN/ISBN: |
| [40] |
A Parametric Model for Temperature Dependence of Dielectric Function of AlSb Film Xuan Au Nguyen, Tae Jung Kim, Van Long Le, Han Gyeol Park, Hoang Tung Nguyen, and Young Dong KimJournal of Nanoscience and Nanotechnology - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [41] |
Combined interpolation, scale change, and noise reduction in spectral analysis Van L. Le, Tae J. Kim, Young D. Kim, and David E. AspnesJournal of Vacuum Science & Technology B - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: 2166-2746 |
| [42] |
Dielectric Functions and Critical Points of GaAsSb Alloys Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Jun Seok Byun, Van Long Le, Hoang Tung Nguyen, Xuan Au Nguyen, Young Dong Kim, Jin Dong Song, and David E. AspnesJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [43] |
External removal of endpoint-discontinuity artifacts in the reciprocal-space analysis of spectra V.L. Le, T.J. Kim, Y.D. Kim, and D.E. AspnesCurrent Applied Physics - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [44] |
Linear and nonlinear filtering of spectra David E. Aspnes, Van L. Le, and Young D. KimJournal of Vacuum Science & Technology B - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: 2166-2746 |
| [45] |
Optical Characterization of the PtSi/Si by Using Spectroscopic Ellipsometry Van Long Le, Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Hwa Seob Kim, Chang Hyun Yoo, Hyoung Uk Kim and Young Dong KimJournal of the Korean Physical Society - Năm xuất bản: 2016; ISSN/ISBN: 0374-4884 |
| [46] |
Optical Properties of GaFeO3 Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Hwa Seob Kim, Chang Hyun Yoo, Hyoung Uk Kim, Young Dong Kim, Chang Bae Park, Kwangwoo Shin, and Kee Hoon KimScience of Advanced Materials - Năm xuất bản: 2018; ISSN/ISBN: 1947-2935 |
| [47] |
Parameterized optical properties of monolayer MoSe2 Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Hoang Tung Nguyen, Xuan Au Nguyen, and Young Dong KimAIP Advances - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [48] |
Temperature Dependence of Optical Properties of Monolayer WS2 by Spectroscopic Ellipsometry Hoang Tung Nguyen, Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Xuan Au Nguyen, Dohyoung Koo, Chul-Ho Lee, Do Duc Cuong, Soon Cheol Hong, Young Dong KimApplied Surface Science - Năm xuất bản: 2020; ISSN/ISBN: |
| [49] |
Temperature Dependence of the Critical Points of Monolayer MoS2 by Ellipsometry Han Gyeol Park, Tae Jung Kim, Hwa Seob Kim, Chang Hyun Yoo, Nilesh S. Barange, Van Long Le, Hyoung Uk Kim, Velusamy Senthilkumar, Chinh Tam Le, Yong Soo Kim, Maeng-Je Seong & Young Dong KimApplied Spectroscopy Reviews - Năm xuất bản: 2016; ISSN/ISBN: 0570-4928 |
| [50] |
Temperature dependence of the dielectric function of monolayer MoS2 V.L. Le, T.J. Kim, H.G. Park, H.T. Nguyen, X.A. Nguyen, Y.D. KimCurrent Applied Physics - Năm xuất bản: 2019; ISSN/ISBN: |
| [51] |
Temperature Dependence of the Dielectric Function of Monolayer MoSe2 Han Gyeol Park, Tae Jung Kim, Farman Ullah, Van Long Le, Hoang Tung Nguyen, Yong Soo Kim & Young Dong KimScientific Reports - Năm xuất bản: 2018; ISSN/ISBN: 2045-2322 |
| [52] |
Temperature Dependence of the Dielectric Response and Critical Point Energies of Bi185Gd015Te3 Hoang Tung Nguyen, Tae Jung Kim, Han Gyeol Park, Van Long Le, Jinsu Kim, Myung-Hwa Jung, and Young Dong KimJournal of Nanoscience and Nanotechnology - Năm xuất bản: 2018; ISSN/ISBN: 1533-4880 |
| [53] |
Temperature Dependence of the Optical Properties of SrTiO3 by Spectroscopic Ellipsometry Han Gyeol Park, Tae Jung Kim, Mangesh S. Diware, Van Long Le, Hwa Seob Kim, Chang Hyun Yoo, and Young Dong KimScience of Advanced Materials - Năm xuất bản: 2017; ISSN/ISBN: 1947-2935 |