Phát hiện lượng vết của các chất hữu cơ độc hại bằng kỹ thuật tán xạ Raman tăng cường bề mặt (SERS) sử dụng các đế SERS được chế tạo từ các hệ dây nano silic

Chỉ số đề mục

81.09.13

Lĩnh vực nghiên cứu

Kỹ thuật vật liệu và luyện kim

Dạng tài liệu

Tác giả

Đào Trần Cao, Lương Trúc Quỳnh Ngân⁽¹⁾, Cao Tuấn Anh, Lê Văn Vũ

Nhan đề

Phát hiện lượng vết của các chất hữu cơ độc hại bằng kỹ thuật tán xạ Raman tăng cường bề mặt (SERS) sử dụng các đế SERS được chế tạo từ các hệ dây nano silic

Nhan đề tiếng anh

Nguồn trích

Hội nghị khoa học kỷ niệm 40 năm thành lập Viện Hàn lâm Khoa học và Công nghệ Việt Nam: Tiểu ban Khoa học vật liệu: Sự tiến triển của khoa học vật liệu (Progress of Materials science)

Năm xuất bản

2015

Số

Trang

121-132

ISSN

Từ khóa

Nano silic, Tán xạ Raman, Lượng vết, Chất hữu cơ độc hại, Phát hiện

Từ khóa tiếng anh

Tóm tắt

Tóm tắt tiếng anh

Kí hiệu kho

TTKHCNQG, Vt 4265/2015

File toàn văn

Xem toàn văn